光模塊功能失效重要原因
發(fā)布時(shí)間：2021-04-07 瀏覽量：1395
光模塊功能失效分為發(fā)射端失效和接收端失效，分析具體原因，最常出現(xiàn)的問(wèn)題集中在以下幾個(gè)方面：
1. 光口污染和損傷
由于光接口的污染和損傷引起光鏈路損耗變大，導(dǎo)致光鏈路不通。產(chǎn)生的原因有：
A. 光模塊光口暴露在環(huán)境中，光口有灰塵進(jìn)入而污染；
B. 使用的光纖連接器端面已經(jīng)污染，光模塊光口二次污染；
C. 帶尾纖的光接頭端面使用不當(dāng)，端面劃傷等；
D. 使用劣質(zhì)的光纖連接器；
2. ESD損傷
ESD是ElectroStatic Discharge縮寫(xiě)即'靜電放電，是一個(gè)上升時(shí)間可以小于1ns（10億分之一秒）甚至幾百ps（1ps＝10000億分之一秒）的非常快的過(guò)程，ESD可以產(chǎn)生幾十Kv/m甚至更大的強(qiáng)電磁脈沖。靜電會(huì)吸附灰塵，改變線路間的阻抗，影響產(chǎn)品的功能與壽命； ESD的瞬間電場(chǎng)或電流產(chǎn)生的熱，使元件受傷，短期仍能工作但壽命受到影響；甚至破壞元件的絕緣或?qū)w，使元件不能工作（完全破壞）。ESD是不可避免，除了提高電子元器件的抗ESD能力，重要的是正確使用，引起ESD損傷的因素。
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